检测技术事例 -电子相关

这部分介绍最近公开的检测技术事例 Technical News
检测技术事例所介绍的各项技术服务,由本公司(SAES)及SCAS集团协作展开。
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■ 相关领域的分类法
原材料、工业分析相关→ 原材料、工業製品分析関連
环境相关→ 環境関連
电子相关→ 電子関連
工业支援相关→ 工業支援関連
医药相关→ 医薬関連
化学品の登録申請関連→ 化学品の登録申請関係
相关
领域
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文件
大小
编号
電子関連 散热材料的热导率检测(12/03/01) new
[放熱材料の熱伝導率測定]
42KB TNC1090
電子関連 高分子材料的光、氧化、热裂解评价~UV-Py-GC/MS~ (12/03/01) new
[高分子材料の光、酸化、熱劣化評価 ~UV-Py-GC/MS~]
83KB TNC1085
電子関連 TOF‐SIMS法的空间检测 (12/03/01) new
[TOF-SIMSによる3次元深さ方向分析]
63KB TNC1083
電子関連 硅晶圆表面局部区域金属杂质的检测 (12/03/01) new
[シリコンウェーハ局所部位中の金属不純物分析]
74KB TNC1082
電子関連 水平型基板检测仪检测晶圆的边缘和斜面 (12/03/01) new
[水平型基板検査装置を用いたウェーハエッジ・ベベル部の分析]
86KB TNC1081
電子関連 非硅薄膜中金属杂质的检测 (12/03/01) new
[非シリコン系薄膜付ウェーハの金属不純物分析]
125KB TNC1058
電子関連 硅太阳能电池材料中金属杂质的检测 (10/11/29)
[シリコン系太陽電池材料中の金属不純物分析]
61KB TNC1050
電子関連 太阳能电池用硅材料最表面的微量成分解析 (11/11/25)
[太陽電池用シリコン最表面の微量成分分析]
54KB TNC1049
電子関連 太阳能电池用封装树脂的老化评价 (11/11/25)
[太陽電池用封止樹脂の劣化評価]
48KB TNC1048
電子関連 薄膜硅型太阳能电池的评价 (11/11/25)
[薄膜シリコン系太陽電池セルの評価]
124KB TNC1047
電子関連 大型环境箱法评价来源于电气・电子产品的释放气体 (11/11/25)
[大形チャンバー法による電気・電子製品からの放散ガス評価]
76KB TNC1046
電子関連 硅材料中金属杂质的检测 (11/11/25)
[シリコン材料中の金属不純物分析]
48KB TNC1045
電子関連 石英玻璃部件中金属杂质的检测方法 (11/11/25)
[石英ガラス部材中の金属不純物分析法]
70KB TNC1044
電子関連 采用红外吸收光谱法对有机薄膜进行解析(10/06/29)
[赤外分光法による有機薄膜解析]
41KB TNC1030
電子関連 热脱附谱检测法的应用 (10/04/01)
[昇温脱離ガス分析法の応用]
43KB TNC1026
電子関連 因NH4-HF蚀刻液使硅晶圆表面产生的沉淀物的检测(10/04/01)
[NH4-HFエッチング液からのウェーハ表面への折出物の分析]
99KB TNC1023
電子関連 采用显微FT-IR法实施硅晶圆上附着物的检测 (10/04/01)
[顕微FT-IRによるウェーハ上付着物の分析]
28KB TNC1022
電子関連 石墨中微量杂质元素的定量分析(10/04/01)
[黒鉛中微量元素の定量]
27KB TNC1021
電子関連 采用XMA对硅晶圆上附着物的检测(10/04/01)
[XMAによるシリコンウェーハ上付着物の分析]
112KB TNC1020
電子関連 采用XMA对微小杂质的检测(10/04/01)
[XMAによる微小異物の分析]
89KB TNC1019
電子関連  原材料、工業製品関連 来自汽车部件、内饰材料的挥发性有机化合物散发气体的检测方法(10/04/09)
[自動車部品・内装材から発生する揮発性有機化合物放散測定法]
53KB TNC1018
電子関連 采用动态顶空进样法评价挥发性化学物质(10/04/09)
[ダイナミックヘッドスペース法による揮発性化学物質の評価]
25KB TNC1017
電子関連 去离子水中痕量阴离子的检测(10/04/09)
[純水中の微量アニオンの分析」測定]
59KB TNC1011
電子関連 半导体材料的释放气体的检测(10/04/01)
[半導体材料のアウトガス分析]
173KB TNC1010
電子関連 设备材料的洁净度评价 (10/04/01)
[装置材料の清浄度評価]
173KB TNC1008
電子関連 洁净室空气中的洁净度评价(10/04/01)
[クリーンルーム空気中の清浄度評価]
31KB TNC1007
電子関連 洁净室空气中微量杂质的检测 (10/04/01)
[クリーンルーム空気中の微量物質の分析]
31KB TNC1005
電子関連 硅晶圆表面的金属杂质的检测(10/04/01)
[シリコンウェーハ表層の金属不純物分析]
173KB TNC1004
電子関連  原材料、工業製品関連 加热产生气体的检测 (10/04/01)
[加熱発生ガスの分析]
68KB TNC1003
電子関連  原材料、工業製品関連 采用ICP-AES方法进行微量检测 (10/04/01)
[ICP-AESによる微量分析]
93KB TNC1001